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          紅外膜厚儀儀器組成和測量原理解析

          更新時間:2022-07-06  |  點擊率:838
            紅外膜厚儀基于紅外濾波片技術制造,專業為工業和科研環境使用而設計。它圖形化顯示油膜厚度,可選參數和校準選擇等選項,更為直觀地給出油膜厚度結果,方便操作。測量*不破壞油膜和基底。適用于潤滑或防腐保護油膜,干潤滑劑或其他有機酸涂層。有一種*的方法來確保此儀器處于可靠運算狀態。這種取得的方法是基于使用包含穩定的樣品薄膜的基準樣片。用戶可以通過本基準樣片很容易的檢查儀器的響應。
            紅外膜厚儀儀器組成和測量原理:
            由激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機測量結果顯示系統組成。激光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上,產生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時,其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變,相應地成像點在光敏器件上的位置也要發生變化。
            利用紅外光穿透物質時的吸收、反射、散射等效應實現非接觸式測量薄膜類材料的厚度。當射線穿過被測材質時,一部分射線被材質吸收導致強度減弱,利用這一原理來檢測被測物質的厚度。被測材質位于放射源和核探測器之間,射線穿過被測材質后進入核探測器,其強度將有所衰減。對于同一種材質,厚度越大,則射線的衰減越大。
            紅外膜厚儀進行測量時有哪些注意事項:
            周圍其他的電器設備會不會產生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
            在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數。
            基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
            試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
            不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
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